“scanning electron microscopy”的概念、定义、翻译、参考文献-科学参考

单词	scanning electron microscopy
释义	scanning electron microscopy Encyclopedia 工学[电子显微术]释 scanning electron microscopy扫描电子显微术以能量为0.240千电子伏的电子束作为微束激发源（又称一次束），以光栅状扫描方式照射到试样的表面上，通过对入射电子和试样表面物质的相互作用所产生的各种信息（又称二次束）的检测，以实现对有关微区的形态、成分和结晶学等的分析技术。全称为扫描电子显微分析术。
随便看	J. Kepler, 1571—1630 J. Kerr J. Kerr, 1824—1907 JKKN J. Kleinberg J. Kleinberg (1971—) J. K. Moser J. K. Moser (1928—1999) JKT JL-1 JLab J. Landen J. Landen (1719—1790) J-lay installation J. L. Doob J. L. Doob (1910—2004) J. Leray J. Leray (1906—1998) J. L. Foucault J. L. Foucault, 1819—1868 J. Lhagva J-limit J-limitable sequence J. Liouville J. Liouville (1809—1882)

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