“characterization of semiconductor materials”的概念、定义、翻译、参考文献-科学参考

单词	characterization of semiconductor materials
释义	characterization of semiconductor materials Encyclopedia 工学半导体材料性能检测释 characterization of semiconductor materials 半导体材料性能检测半导体材料测试是表征半导体材料性质、性能的技术，是半导体材料发展的重要组成部分。
随便看	“天鹅座”号货运飞船 “太禧”款卵白釉印花盘 “太空之路”号卫星 “太空舱返回实验”1号卫星 “太空船”1号亚轨道载人飞行器 “太阳与日光层观测台”号探测器 “太阳神”号卫星 “太阳神”号探测器 “太阳辐射监测卫星” “奥斯特兰”号沉船 “奥普图斯”号卫星 “委内瑞拉通信卫星”1号 “委内瑞拉遥感卫星” “威望”号石油泄漏事故 “嫦娥”1号探测器 “嫦娥”1号探测器光学探测相机 “嫦娥”CMOS相机系列 “嫦娥”号探测器 “子午仪”号导航卫星 “子午线”号卫星 “孤岛”电影 “宇宙” “宇宙”号卫星 “宇宙神”系列运载火箭 “宇宙背景探测者”号卫星

科学参考收录了854744条科技类词条，基本涵盖了常见科技类参考文献及英语词汇的翻译，是科学学习和研究的有利工具。