| 释义 |
total internal reflection fluorescence microscopy
Encyclopedia
理学生物发光分析释
total internal reflection fluorescence microscopy全内反射荧光显微镜
利用激发光在发生全内反射时产生的隐逝波来激发荧光分子，以观察荧光标记样品极薄（一般小于200纳米）区域的荧光显微镜。它比普通宽场落射成像显微镜具有更高的信噪比，是实现单分子荧光成像的常用工具。
理学生物物理学释
total internal reflection fluorescence microscopy; TIRFM全内反射荧光显微术
通过利用全内反射产生的消逝波进行激发，将样品处激发区域限制在玻片表面100纳米左右范围以内，从而能够很大程度上减少背景荧光干扰，增强信噪比的荧光显微成像技术。
Physics
光学、声学光学
total internal reflection fluorescence microscopy全反射荧光显微术
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total internal reflection fluorescence microscopy, TIRFM全反射荧光显微学
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