| 释义 |
secondary ion mass spectrometry
Encyclopedia
工学[谱仪分析方法]释
secondary ion mass spectrometry二次离子质谱分析
用质谱法分析溅射出的二次离子的技术。
工学[表面测量]释
secondary ion mass spectrometry二次离子质谱分析
用质谱分析研究一次离子束轰击固体表面时溅射出来的二次离子，从而获得固体表面组成信息的技术。
理学质谱分析释
secondary ion mass spectrometry; SIMS二次离子质谱
通过初级离子束轰击样品表面产生二次（次级）离子进行物质组成和结构分析的质谱分析法。
Chemistry
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